Effects of Si interlayer conditions on platinum ohmic contacts for p-type silicon carbide
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[T. Jang, J. Erickson, L. Porter]
Ort, Verlag, Jahr:
2002
Enthalten in:
Journal of Electronic Materials, 31/5(2002-05-01), 506-511
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: