Stacking-fault formation and propagation in 4H-SiC PiN diodes
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[R. Stahlbush, M. Fatemi, J. Fedison, S. Arthur, L. Rowland, S. Wang]
Ort, Verlag, Jahr:
2002
Enthalten in:
Journal of Electronic Materials, 31/5(2002-05-01), 370-375
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: