The determination of the interface-state density distribution from the capacitance-frequency measurements in Au/n-Si schottky barrier diodes
Gespeichert in:
Verfasser / Beitragende:
[E. Ayyildiz, Ç. Nuho Lu, A Türüt]
Ort, Verlag, Jahr:
2002
Enthalten in:
Journal of Electronic Materials, 31/2(2002-02-01), 119-123
Format:
Artikel (online)
Online Zugang: