A simple technique for determining yield strength of thin films

Verfasser / Beitragende:
[M. Gordon, W. Schmidt, Q. Qiao, B. Huang, S. Ang]
Ort, Verlag, Jahr:
2002
Enthalten in:
Experimental Mechanics, 42/3(2002-09-01), 232-236
Format:
Artikel (online)
ID: 471157155