naa a22 4500 51080392X CHVBK 20180411083408.0 cr unu---uuuuu 180411e20130401xx s 000 0 eng 10.1007/s11664-012-2428-4 doi (NATIONALLICENCE)springer-10.1007/s11664-012-2428-4 Preparation and Study of Bismuth Rare-Earth Tungstate Composite Screen-Printed Thick Films [Elektronische Daten] [G.N. Rocha, L.F.L. Melo, S.M. Dantas, A.P. Ayala, A.S.B. Sombra, A.F.L. Almeida, A.S. de Menezes, P.B.A. Fechine] In this paper, we report the microstructural and dielectric properties of bismuth rare-earth tungstate composite screen-printed thick films (BiGd1−X Nd X WO6, BiGd1−X Y X WO6, and BiY1−X Nd X WO6). The crystal structure of BiREWO6 (RE=Gd, Nd, and Y) can be associated with the Bi2WO6 perovskite structure. It was observed that the crystalline structure was attributed to a monoclinic phase with space group A12/m1. BiYWO6 and BiY0.5Gd0.5WO6 films showed characteristics of the dielectric relaxation phenomenon. The thick films exhibited moderate dielectric permittivity (ε r′) values from 10 to 42. The results showed that the obtained ε r′ values for films can be useful for capacitor applications and certainly for microelectronics and microwave devices (mobile phones, for example), where miniaturization of devices is crucial. TMS, 2013 Bismuth rare-earth tungstate nationallicence dielectric measurement nationallicence thick films nationallicence electroceramic nationallicence Rocha G.N. Grupo de Química de Materiais Avançados (GQMAT), Departamento de Química Analítica e Físico-Química, Universidade Federal do Ceará—UFC, Campus do Pici, CP 12100, CEP 60451-970, Fortaleza, CE, Brazil aut Melo L.F.L. Grupo de Química de Materiais Avançados (GQMAT), Departamento de Química Analítica e Físico-Química, Universidade Federal do Ceará—UFC, Campus do Pici, CP 12100, CEP 60451-970, Fortaleza, CE, Brazil aut Dantas S.M. Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, Brazil aut Ayala A.P. Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, Brazil aut Sombra A.S.B. Laboratório de Telecomunicações e Ciência e Engenharia dos Materiais (LOCEM), Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, Brazil aut Almeida A.F.L. Departamento de Engenharia Mecânica e de Produção (DEMP), Centro de Tecnologia, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, Brazil aut de Menezes A.S. Departamento de Física, CCET, Universidade Federal do Maranhão, Campus do Bacanga, 65085-580, São Luís, MA, Brazil aut Fechine P.B.A. Grupo de Química de Materiais Avançados (GQMAT), Departamento de Química Analítica e Físico-Química, Universidade Federal do Ceará—UFC, Campus do Pici, CP 12100, CEP 60451-970, Fortaleza, CE, Brazil aut Journal of Electronic Materials Springer US; http://www.springer-ny.com 42/4(2013-04-01), 752-760 0361-5235 42:4<752 2013 42 11664 https://doi.org/10.1007/s11664-012-2428-4 text/html Onlinezugriff via DOI 1 research-article jats NATIONALLICENCE 856 40 https://doi.org/10.1007/s11664-012-2428-4 text/html Onlinezugriff via DOI NATIONALLICENCE 700 1- Rocha G.N. Grupo de Química de Materiais Avançados (GQMAT), Departamento de Química Analítica e Físico-Química, Universidade Federal do Ceará—UFC, Campus do Pici, CP 12100, CEP 60451-970, Fortaleza, CE, Brazil aut NATIONALLICENCE 700 1- Melo L.F.L. Grupo de Química de Materiais Avançados (GQMAT), Departamento de Química Analítica e Físico-Química, Universidade Federal do Ceará—UFC, Campus do Pici, CP 12100, CEP 60451-970, Fortaleza, CE, Brazil aut NATIONALLICENCE 700 1- Dantas S.M. Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, Brazil aut NATIONALLICENCE 700 1- Ayala A.P. Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, Brazil aut NATIONALLICENCE 700 1- Sombra A.S.B. Laboratório de Telecomunicações e Ciência e Engenharia dos Materiais (LOCEM), Departamento de Física, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, Brazil aut NATIONALLICENCE 700 1- Almeida A.F.L. Departamento de Engenharia Mecânica e de Produção (DEMP), Centro de Tecnologia, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, Brazil aut NATIONALLICENCE 700 1- de Menezes A.S. Departamento de Física, CCET, Universidade Federal do Maranhão, Campus do Bacanga, 65085-580, São Luís, MA, Brazil aut NATIONALLICENCE 700 1- Fechine P.B.A. Grupo de Química de Materiais Avançados (GQMAT), Departamento de Química Analítica e Físico-Química, Universidade Federal do Ceará—UFC, Campus do Pici, CP 12100, CEP 60451-970, Fortaleza, CE, Brazil aut NATIONALLICENCE 773 0- Journal of Electronic Materials Springer US; http://www.springer-ny.com 42/4(2013-04-01), 752-760 0361-5235 42:4<752 2013 42 11664 Metadata rights reserved Springer special CC-BY-NC licence nationallicence BK010053 XK010053 XK010000 NATIONALLICENCE NATIONALLICENCE NL-springer