cam a22 4 4500 555250865 CHVBK 20201001074648.0 190122s2018 gw m||| 000 0 ger|d (OCoLC)1083946128 (NEBIS)011351250 DEBSZ ger SzZuIDS NEBIS ETH-BIB rda ger eng Linseis Vincent 1984- (DE-588)1175973297 Verfasser aut Entwicklung einer Messplattform zur Bestimmung der thermoelektrischen Eigenschaften von Dünnschichtproben in der Ebene Vincent Linseis [Freiburg im Breisgau] IMTEK, Universität Freiburg 2018 xi, 250 Seiten. Illustrationen, Diagramme Text txt rdacontent/ger ohne Hilfsmittel zu benutzen n rdamedia/ger Band nc rdacarrier/ger Design of Microsystems vol. 19 19 (NEBIS)006410574 173733069 Dissertation Albert-Ludwigs-Universität Freiburg im Breisgau 2018 Kurzzusammenfassung deutsch und englisch DÜNNFILMSCHALTUNGEN + DÜNNSCHICHTSCHALTUNGEN (MIKROELEKTRONIK) ger (ETHUDK)000028116 ethudk MIKROSYSTEMTECHNIK, MST ger (ETHUDK)000062325 ethudk THERMOELEKTRISCHE WERKSTOFFE (ELEKTROTECHNIK) ger (ETHUDK)000065212 ethudk u THERMOELEKTRISCHE WERKSTOFFE (ELEKTROTECHNIK) ger 621.3,1.1%537.322 nebis E1 u DÜNNFILMSCHALTUNGEN + DÜNNSCHICHTSCHALTUNGEN (MIKROELEKTRONIK) ger 621.3.049.772.2 nebis E1 u MIKROSYSTEMTECHNIK, MST ger 62.09,9 nebis E1 u THERMOELECTRIC MATERIALS (ELECTRICAL ENGINEERING) eng 621.3,1.1%537.322 nebis E1 u MATÉRIAUX THERMOÉLECTRIQUES (ÉLECTROTECHNIQUE) fre 621.3,1.1%537.322 nebis E1 u THIN FILM CIRCUITS (MICROELECTRONICS) eng 621.3.049.772.2 nebis E1 u CIRCUITS INTÉGRÉS À COUCHE MINCE (MICROÉLECTRONIQUE) fre 621.3.049.772.2 nebis E1 u MICRO SYSTEM TECHNOLOGIES, MST eng 62.09,9 nebis E1 u TECHNOLOGIE DES MICROSYSTÈMES, MST fre 62.09,9 nebis E1 BK020300 XK020000 XK020000 055 E01-20190218 NEBIS E16 E16 RH P T 2631: 19 NEBIS 100 1- Linseis Vincent 1984- (DE-588)1175973297 Verfasser aut NEBIS 490 0- Design of Microsystems vol. 19 19 (NEBIS)006410574 173733069 NEBIS EAD50 EBI01 E01 https://opac.nebis.ch/objects/pdf03/e01_011351250_01.pdf Titelblatt und Inhaltsverzeichnis VIEW pdf