cam a22 4 4500 555322688 CHVBK 20201001074653.0 180807s2018 xxu |||| 101 |eng| 978-1-5106-1581-6 print 978-1-5106-1582-3 electronic (OCoLC)1085685065 (NEBIS)011352872 SzZuIDS NEBIS ETH-BIB ger rda Steep Dispersion Engineering and Opto-Atomic Precision Metrology Veranstaltung (11. 2018 San Francisco, Calif.) (DE-588)1177172402 Steep Dispersion Engineering and Opto-Atomic Precision Metrology XI 29 January-1 February 2018, San Francisco, California, United States Selim M. Shahriar, Jacob Scheuer (editors) ; sponsored and published by SPIE Bellingham, Washington SPIE [2018] 1 Band Illustrationen Text txt rdacontent/ger ohne Hilfsmittel zu benutzen n rdamedia/ger Band nc rdacarrier/ger Proceedings of SPIE. 5200- volume 10548 10548 (NEBIS)004705004 159174961 METROLOGIE, MASS- UND GEWICHTSSYSTEME ger (ETHUDK)000012310 ethudk NANO-OPTISCHE NACHRICHTENTECHNIK + NANOPHOTONIK (OPTISCHE NACHRICHTENTECHNIK) ger (ETHUDK)000065957 ethudk OPTISCHE MESSMETHODEN (PHYSIK) ger (ETHUDK)000014240 ethudk PHOTONISCHE KRISTALLE ger (ETHUDK)000063568 ethudk Konferenzschrift San Francisco, Calif 2018 gnd-content u OPTISCHE MESSMETHODEN (PHYSIK) ger 53.082.5 nebis E1 u METROLOGIE, MASS- UND GEWICHTSSYSTEME ger 389 nebis E1 u PHOTONISCHE KRISTALLE ger 681.7.039 nebis E1 u NANO-OPTISCHE NACHRICHTENTECHNIK + NANOPHOTONIK (OPTISCHE NACHRICHTENTECHNIK) ger 621.391.63*2 nebis E1 u OPTICAL MEASURING METHODS (PHYSICS) eng 53.082.5 nebis E1 u MÉTHODES DE MESURE OPTIQUES (PHYSIQUE) fre 53.082.5 nebis E1 u METROLOGY, WEIGHTS AND MEASURES eng 389 nebis E1 u MÉTROLOGIE, POIDS ET MESURES fre 389 nebis E1 u PHOTONIC CRYSTALS eng 681.7.039 nebis E1 u CRISTAUX PHOTONIQUES fre 681.7.039 nebis E1 u NANO-OPTICAL TELECOMMUNICATIONS + MICROPHOTONICS (OPTICAL TELECOMMUNICATIONS) eng 621.391.63*2 nebis E1 u TÉLÉCOMMUNICATIONS NANO-OPTIQUES + NANOPHOTONIQUE (TÉLÉCOMMUNICATIONS OPTIQUES) fre 621.391.63*2 nebis E1 Shahriar Selim M. Herausgeber edt Scheuer Jacob Herausgeber edt SPIE (DE-588)10182148-7 Sponsor spn Herausgebendes Organ isb BK020800 XK020000 XK020000 144 E01-20190218 053 E01-20190218 NEBIS E01 E01 MG P 713011: 10548 NEBIS 111 2- Steep Dispersion Engineering and Opto-Atomic Precision Metrology Veranstaltung (11 2018 San Francisco, Calif) (DE-588)1177172402 NEBIS 490 0- Proceedings of SPIE. 5200- volume 10548 10548 (NEBIS)004705004 159174961 NEBIS 700 1- Shahriar Selim M. Herausgeber edt NEBIS 700 1- Scheuer Jacob Herausgeber edt NEBIS 710 2- SPIE (DE-588)10182148-7 Sponsor spn Herausgebendes Organ isb NEBIS EAD50 EBI01 E01 https://opac.nebis.ch/objects/pdf03/e01_978-1-5106-1581-6_01.pdf Titelblatt und Inhaltsverzeichnis VIEW pdf SWISSBIB 555320952