cam a22 4 4500 555325539 CHVBK 20201018105847.0 cr ||||||||||| 180807s2018 xxu o|||| 101 |eng| 978-1-5106-1776-6 electronic 978-1-5106-1775-9 print (OCoLC)1063651149 (NEBIS)011353127 SzZuIDS NEBIS ETH-BIB ger rda Anomaly Detection and Imaging with X-Rays Veranstaltung (3. 2018 Orlando, Fla.) (DE-588)1177189933 Anomaly Detection and Imaging with X-Rays (ADIX) III 17-18 April 2018, Orlando, Florida, United States Amit Ashok, Joel A. Greenberg, Michael E. Gehm, Mark A. Neifeld (editors) ; sponsored and published by SPIE Bellingham, Washington SPIE [2018] 1 Online-Ressource Text txt rdacontent/ger Computermedien c rdamedia/ger Band nc rdacarrier/ger Proceedings of SPIE. 5200- volume 10632 Includes bibliographical references and author index Konferenzschrift Orlando, Fla 2018 gnd-content Ashok Amit Herausgeber edt Greenberg Joel Alter Herausgeber edt Gehm Michael Eric Herausgeber edt Neifeld Mark A. Herausgeber edt SPIE (DE-588)10182148-7 Sponsor spn Herausgebendes Organ isb http://sfx.ethz.ch/sfx_locater?sid=ALEPH:EBI01&genre=book&isbn=9781510617766 Online via SFX BK020853 XK020053 XK020000 EText nebis ED E01-Manuell nebis ER noalma ids I NEBIS E01 E01 EL NEBIS 111 2- Anomaly Detection and Imaging with X-Rays Veranstaltung (3 2018 Orlando, Fla) (DE-588)1177189933 NEBIS 490 0- Proceedings of SPIE. 5200- volume 10632 NEBIS 700 1- Ashok Amit Herausgeber edt NEBIS 700 1- Greenberg Joel Alter Herausgeber edt NEBIS 700 1- Gehm Michael Eric Herausgeber edt NEBIS 700 1- Neifeld Mark A. Herausgeber edt NEBIS 710 2- SPIE (DE-588)10182148-7 Sponsor spn Herausgebendes Organ isb NEBIS 856 -- http://sfx.ethz.ch/sfx_locater?sid=ALEPH:EBI01&genre=book&isbn=9781510617766 Online via SFX SWISSBIB 365881813