2018 3rd International Conference on Pattern Analysis and Intelligent Systems (PAIS 2018)
Tebessa, Algeria, 24-25 October
Gespeichert in:
Ort, Verlag, Jahr:
Piscataway, NJ :
IEEE,
2018
Beschreibung:
334 Seiten : Illustrationen
Format:
Buch (Kongress)
Online Zugang: